Рентгенофлуоресцентный анализ с полным отражением

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску

Рентгенофлуоресце́нтный ана́лиз с по́лным отраже́нием (англ. Total reflection X-ray fluorescence, TXRF) — технология одновременного анализа нескольких элементов, разработанная на основе рентгенофлуоресцентного анализа (РФА, англ. XRF)[1]. В отличие от РФА, где угол падения рентгеновских лучей составляет около 40˚, в TXRF первичные лучи падают под углом, немного меньшим критического угла, чтобы облучить очень небольшое количество образца, размещённого на оптической платформе (подложке для образца)[2]. Благодаря высокой отражающей способности подложки лучи отражаются. Первичное излучение практически не регистрируется детектором, что значительно снижает фоновую составляющую в энергетическом спектре и повышает эффективность обнаружения. При анализе элементов в следовых количествах[3] из-за сверхнизкого фона характеристические пики не перекрываются фоновой интенсивностью, что позволяет анализировать микроэлементы. TXRF характеризуется[4] высокой чувствительностью, низким пределом обнаружения, отсутствием матричных эффектов, простотой проведения количественного анализа методом внутреннего стандарта, небольшим количеством анализируемой пробы (от нг до мкг в зависимости от способа подготовки образца), возможностью проведения неразрушающего контроля и одновременного многоэлементного анализа[5].

Принцип работы TXRF

[править | править код]
Принцип работы TXRF

Рентгенофлуоресцентный анализ использует взаимодействие первичного рентгеновского излучения с веществом для получения характеристического рентгеновского излучения и его анализа[3]. Энергетическое состояние электронов в атомах квантуется[6], и характеристическое рентгеновское излучение, возникающее при ионизации или возбуждении, может быть сопоставлено с определёнными атомами в зависимости от энергии пиков. Согласно закону Мозли[7] и уравнению Шермана, элементы могут быть проанализированы качественно и количественно[8]. При полном отражении первичные лучи испускаются вдоль направления падения и почти не регистрируются детектором, что значительно снижает фоновую интенсивность. Широкая падающая волна и широкая отражённая волна вызывают интерференцию[3], образуя стоячую волну, которая может возникать в тонких образцах на предметном столике и на поверхности предметного столика, отражающей первичное излучение. В этот момент образец возбуждается как падающим излучением, так и излучением, возникшим при полном отражении, интенсивность флуоресценции образца имеет при этом тенденцию к резкому увеличению[2][5].

Источником первичного излучения является рентгеновская трубка, которая облучает образец на предметном столике под определённым углом, генерируя вторичное рентгеновское излучение[9], которое затем регистрируется детектором. Если не учитывать резонансные и квантовые эффекты на границе поглощения[10], можно считать критический угол зависящим от материала отражателя и длины волны падающего луча. Критический угол[11] полного отражения рентгеновских лучей определяется уравнением , где E — энергия первичного луча, αc — критический угол, A — атомный вес[англ.]* вещества, Z — атомный номер вещества, ρ — плотность вещества[5].

Основными различиями между TXRF и XRF являются угол падения первичных лучей (в XRF он обычно составляет около 40˚, в TXRF — менее критического угла 0,1˚[3][12]); гладкость подложки и требования к образцу (TXRF требует высокой отражательной способности подложки для обеспечения полного отражения, толщина образца обычно составляет менее 100 мкм[4][13]); положение детектора (из-за полного отражения детектор можно разместить очень близко к образцу, чтобы улучшить эффективность регистрации детектора — как правило, на расстоянии около 0.5 мм[4])[5].

Разработка и применение TXRF

[править | править код]

История разработки метода

[править | править код]

В 1923 году явление полного внешнего отражения падающего под малым углом к поверхности образца первичного излучения впервые было описано А. Комптоном[14][15]. Экспериментальные результаты подтверждали теоретические оценки. В Советском Союзе A. И. Aлихaнoв в начале 1930-х годов выполнил исследования полного внешнего отражения для тонких слоёв металла с использованием монохроматического излучения[16][17]. В 1971 году технология полного отражения в рентгенофлуоресцентной спектроскопии впервые была применена в 1971 году Йонедой и Хориучи[13], впоследствии она применялась для определения содержания урана в морской воде, железа в крови и редкоземельных элементов в воде горячих источников. Впоследствии были исследованы теоретические основы и экспериментальные условия. В 1974—1975 годах Вобраушек и Айгингер сообщили о пределе обнаружения на уровне нанограммов[18][19], в 1975 году Вобраушек защитил в Вене докторскую диссертацию на эту тему[20]. В Гестахте, недалеко от Гамбурга, Кно и Швенке обнаружили следы элементов на уровне частей на миллиард[21][22]. В течение десятилетия после 1980 года широкий спектр применений способствовал росту интереса к этой области, и количество используемых приборов увеличилось примерно до 200 по всему миру[5]. В 1980 году компания Rich Seifert из Аренсбурга успешно разработала первый коммерческий рентгеновский флуоресцентный спектрометр с полным отражением, примерно в то же время Вобраушек сконструировал простой модуль, до сих пор используемый в Международном агентстве по атомной энергии в Вене[23]. С тех пор разработка и применение прибора TXRF быстро развивались и совершенствовались. С 1984 года на международном уровне было проведено несколько семинаров по TXRF[24]. С 1990-х годов в Китае разработкой рентгеновских флуоресцентных спектрометров и методов анализа занимались в институте физики высоких энергий[10], институте современной физики[25] и Китайском институте атомной энергии[5].

В 1983 году Беккер и другие впервые наблюдали угловую зависимость интенсивностей флуоресценции в диапазоне ниже критического угла полного отражения[26]. Это позволило проводить неразрушающие исследования поверхностных загрязнений и тонких приповерхностных слоев. В 1986 году Иида и другие впервые использовали для возбуждения рентгеновское излучение синхротрона[27]. В 1986 году в Гестахте состоялась первая международная конференция, посвящённому новому и сопутствующим методам анализа[28]. Участники решили назвать новый метод рентгенофлуоресцентным анализом с полным отражением (англ. total reflection X-ray fluorescence analysis) и ввели аббревиатуру «TXRF». В 1991 году Вобраушек, Айгингер, Швенке и Кнох получили за разработку TXRF престижную премию Бунзена-Кирхгофа от DASp (Немецкой рабочей группы по прикладной спектроскопии, нем. Deutsche Arbeitskreis fur Angewandte Spektroskopie) за разработку TXRF[5].

Дальнейшая история применения метода

[править | править код]

В годы после были опубликованы первые обзоры и статьи по теме TXRF (например, Клокенкамером[29][30]). Количество статей о TXRF резко возросло с 3 до примерно 125 статей в год с большими колебаниями[31]. TXRF успешно применяется по всему миру. Он широко используется для анализа и определения макро- и микроэлементов в различных областях, таких как химическая промышленность, пищевая промышленность, охрана окружающей среды, биология, медицина, юридическая экспертиза, производство материалов высокой чистоты, геология и добыча полезных ископаемых, металлургия и т. д.[32]. В 1995 году Тянь Юйхун и другие[10] исследовали структуру системы вторичных отражений. Минимальный предел обнаружения медной мишени при малом размере пучка может достигать 0,6 × 10−9, а платиновой мишени — 2 × 10−9. В 1996 году, когда Кристина Стрели[33] использовала TXRF для анализа лёгких элементов, она сравнила эффективность различных источников рентгеновского излучения, таких как стандартные рентгеновские трубки, специальные безэкранные рентгеновские трубки и синхротронное излучение, а также использовала специальные источники возбуждения и компоненты для спектральной коррекции, чтобы снизить предел обнаружения и уменьшить фоновый счёт. Впоследствии П. Бурба и другие дополнительно изучили источник рентгеновского излучения и обнаружили, что пределы обнаружения зависят от источника. При использовании синхротронного излучения в качестве источника рентгеновского излучения пределы обнаружения находятся в диапазоне нескольких сотен фемтограммов[34], а при использовании специальной рентгеновской трубки без окна с анодом из а-Si — в диапазоне нескольких пикограммов[35]. TXRF используется повсеместно. Для целей охраны окружающей среды TXRF-анализ проб окружающей среды (таких как вода, почва, частицы воздуха, животные и растения и т. д.)[36][37][38][39][40][41][42][43] позволяет оценить изменения окружающей среды. Эрик К. Тоуэтт и другие[38][39] использовали TXRF для изучения содержания элементов в почве и сравнили данные с результатами измерения ICP-MS после выщелачивания, была показана осуществимость использования результатов измерения TXRF в почве. Лю[40] использовал рентгеновскую флуоресцентную спектроскопию для измерения частиц в атмосфере и оценки загрязнения воздуха. С помощью рентгеновской флуоресцентной спектроскопии можно исследовать геологические образцы (такие как руды, кристаллы и минеральное сырьё), проводить геологические и геохимические исследования и подсчитывать запасы полезных ископаемых. Т. Черкашина и другие[44] использовали рентгеновскую флуоресцентную спектроскопию для изучения образцов руды и доказали, что с помощью рентгеновской флуоресцентной спектроскопии можно быстро обнаруживать образцы руды. В химической промышленности контроль качества продукции может быть осуществлён путем анализа содержания элементов или примесей в химических продуктах (нефти и нефтепродуктах, удобрениях, отходах, плёнках)[45][46][47][48]. И. Де Ля Калле и другие[47] использовали рентгеновскую флуоресцентную спектрометрию для измерения содержания металлов в плавильном шлаке, чтобы оценить целесообразность процесса обработки плавильного шлака и определить, можно ли перерабатывать шлак. Ф. М. Адебийи и другие[45] использовали рентгеновскую флуоресцентную спектрометрию для анализа микроэлементов в нигерийских нефтеносных песках. В области медицины и питания М. В. Ланкош и другие[49] использовали рентгеновскую флуоресцентную спектрометрию для измерения содержания микроэлементов в тканях человеческого мозга, чтобы определить степень заболевания. М. Ли[50] изучил взаимосвязь между минеральными элементами и заболеваниями с помощью рентгеновской флуоресцентной спектрометрии волос пациентов с хроническим гепатитом В и здоровых людей. В Китае рентгеновская флуоресцентная спектрометрия в основном используется для анализа продуктов питания (таких как рыба, фрукты, орехи, пыльца, чай)[51][52][53][54] и в медицине, например, Ю и другие[51] анализировали различные сорта винограда. Ван[55] использовал рентгеновскую флуоресцентную спектрометрию для анализа трутовика лакированного разного происхождения[5].

Современное применение TXRF

[править | править код]

За последние несколько лет 2010-х годов было усовершенствовано множество приборов, и элементный анализ стал применяться в следующих областях прикладных исследований.

  1. Минералы: полевой шпат, оксид сурьмы, золотая руда, флюорит[56];
  2. Металлургия: никелевый электролит, чугун, подшипники;
  3. Охрана окружающей среды: чистая вода[57], минеральная вода, водопроводная вода, сточные воды, атмосферная пыль, ил, вода из солёных озёр с высокой солёностью; почва[58];
  4. Химическая промышленность: формула катализатора для очистки автомобильных выхлопов, сера в дизельном топливе, формула керамической глазури;
  5. Биология: зубы, морские животные, кровь[59], клетки и белки, биологические жидкости;
  6. Юридическая экспертиза: оценка образцов на месте аварии[60];
  7. Материалы: стекло, кварц высокой степени очистки; медицина: микроэлементы в волосах[52], ногтях, вредные микроэлементы в шалфее;
  8. Пища: полезные и вредные элементы в составе напитков, риса[61], растительных материалов, листьев, корней и стеблей.

В 2017 году Радио Мерседес и другие[62] исследовали влияние неорганической (CaCl2) и органической матриц на количественное определение металлов методом рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с полным отражением для жидких образцов. В 2018 году Цугуфуми Мацуяма и другие[63] предложили новую методику оценки концентрации урана в воде, содержащей множество различных примесей, с помощью рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с полным отражением. Хикари Такахара и другие[64] разработали метод подготовки порошковых образцов без растворения для анализа методом рентгеновской флуоресцентной спектрометрии с полным отражением. В 2019 году И. Щалоки и другие[12] представили новую модель фундаментальных параметров и алгоритм расчёта для количественного анализа методом рентгеновской флуоресценции с полным отражением. В 2020 году Александра Винклер и другие[65] определили элементный состав различных травяных настоев и чаёв, включая микроэлементы, с помощью метода рентгеновской флуоресценции с полным отражением. Грубер Андреас и другие[66] точно определяли содержание железа и других микроэлементов в различных биологических образцах с помощью рентгенофлуоресцентного анализа с полным отражением. Алекс фон Болен и другие[67] установили, что рентгеновская флуоресцентная спектроскопия не позволяет полностью избавиться от матричных эффектов, если толщина остатков матричных образцов по результатам TXRF-анализа различных компонентов напитков превышает некоторый предел[5].

Литература

[править | править код]

Примечания

[править | править код]
  1. ↑ Streli, C., Aiginoer, H. and Wobrauschek, P. (1989) Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis of Low-Z Elements. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 44, 491—497. https://doi.org/10.1016/0584-8547(89)80055-2 (англ.)
  2. ↑ 1 2 Li, N.Y. (2020) Study on a New Rapid Quantitative Method of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry. Shanghai Normal University, Shanghai. (англ.)
  3. ↑ 1 2 3 4 Klockenkamper, R. and Von Bohlen, A. (2014) Total-Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods. John Wiley & Sons, Hoboken. https://doi.org/10.1002/9781118985953 (англ.)
  4. ↑ 1 2 3 Jin, A. (2017) An Accurate Measurement Method Based on Total Reflectance X-Ray Fluorescence Spectrometry. China University of Petroleum, Beijing. (англ.)
  5. ↑ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Yang, T. , Fan, X. and Zhou, J. (2020) Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy. Open Access Library Journal, 7, 1-12. http://dx.doi.org/10.4236/oalib.1106671 (англ.)
  6. ↑ Lu, X.T. (2000) Atomic Physics. Atomic Energy Press, Beijing (англ.)
  7. ↑ Moseley, H.G.J. (1913) The Attainment of High Potentials by the Use of Radium. Proceedings of the Royal Society A, 88, 471—476. https://doi.org/10.1098/rspa.1913.0045 (англ.)
  8. ↑ J. Sherman — The theoretical derivation of fluorescent X-ray intensities from mixtures — Spectrochimica Acta Volume 7, 1955—1956, Pages 283—306 — https://doi.org/10.1016/0371-1951(55)80041-0 (англ.)
  9. ↑ Barkla, C.G. (1911) XXXIX. The Spectra of the Fluorescent Rontgen Radiations. The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science, 22, 396—412. https://doi.org/10.1080/14786440908637137 (англ.)
  10. ↑ 1 2 3 Tian, Y. U., Tan, J. L., Zheng, S. H., et al. (1995) Study on Total Reflection X Fluorescence Analysis Technology. Nuclear Electronics and Detection Technology, 15, 7-11. (англ.)
  11. ↑ Fan, Q.M. and Liu, Y.W. (1990) Nack-Grade Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis. Spectroscopy and Spectral Analysis, 10, 64-67 (англ.)
  12. ↑ 1 2 Szaloki, I., Racz, G. and Germany, A. (2019) Fundamental Parameter Model for Quantification of Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 156, 33-41. https://doi.org/10.1016/j.sab.2019.04.010 (англ.)
  13. ↑ 1 2 Yoneda, Y. and Horiuchi, T. (1971) Optical Flats for Use in X-Ray Spectrochemical Microanalysis. Review of Scientific Instruments, 42, 1069—1070. https://doi.org/10.1063/1.1685282 (англ.)
  14. ↑ A. H. Compton, 1923. CXVII. The Total Reflexion of X-Rays. The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science 45 (270), 1121—1131. https://doi.org/10.1080/14786442308634208 (англ.)
  15. ↑ Блохин М. А. Физика рентгеновских лучей / 2-е изд. М.: ГИТТЛ, 1957. 518 с
  16. ↑ Алиханов А. И. Оптика рентгеновских лучей. М.: ГТТИ, 1932.
  17. ↑ А. Г. Ревенко — Особенности методик анализа геологических образцов с использованием рентгенофлуоресцентных спектрометров с полным внешним отражением (TXRF) — Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 2
  18. ↑ Aiginger, H. and Wobrauschek, P. (1974) A Method for Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis in the Nanogram Region. Nuclear Instruments and Methods, 114, 157—158. https://doi.org/10.1016/0029-554X(74)90352-8 (нем.)
  19. ↑ Aiginger, H. and Wobrauschek, P. (1975) Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Elements in Nanogram Amounts. Analytical Chemistry, 47, 852—855. https://doi.org/10.1021/ac60356a034 (англ.)
  20. ↑ Wobrauschek, P. (1975) Totalreflexions-Rontgenfluoreszenzanalyse. PhD Thesis, Atominstitut der Osterreichischen Universitaten, Technical University of Vienna, Vienna (нем.)
  21. ↑ Knoth, J. and Schwenke, H. (1978) An X-Ray Fluorescence Spectrometer with Totally Reflection Sample Support for Trace Analysis at the PPB Level. Fresenius’ Zeitschrift für analytische Chemie, 291, 200—204. https://doi.org/10.1007/BF00480689 (англ.)
  22. ↑ Schwenke, H. and Knoth, J. (1982) A Highly Sensitive Energy-Dispersive X-Ray Spectrometer with Multiple Total Reflections of the Exciting Beam. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, 193, 239—243. https://doi.org/10.1016/0029-554X(82)90703-0 (англ.)
  23. ↑ A. von Bohlen — Total reflection X-ray fluorescence and grazing incidence X-ray spectrometry — Tools for micro- and surface analysis. A review — Spectrochimica Acta Part B 64 (2009) 821—832 — http://doi.org/10.1016/j.sab.2009.06.012 (англ.)
  24. ↑ Aiginger, H. (1991) Historical Development and Principles of Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis (TXRF). Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 46, 1313—1321. https://doi.org/10.1016/0584-8547(91)80180-B (англ.)
  25. ↑ Tian Y.C., Zheng S. H. and Wang, Z. G. (1992) The Establishment of Total Reflection X Fluorescence Analysis Technique. Nuclear Electronics and Detection Technology, 12, 86. (англ.)
  26. ↑ Becker, R. S., Golovchenko, J. A. and Patel, J. R. (1983) X-Ray Evanescent-Wave Absorption and Emission. Physical Review Letters, 50, 153—156. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.50.153 (англ.)
  27. ↑ Iida, A., Yoshinaga, A., Sakurai, K. and Gohshi, Y. (1986) Synchrotron Radiation Excited X-Ray Fluorescence Analysis Using Total Reflection of X-Rays. Analytical Chemistry, 58, 394—397. https://doi.org/10.1021/ac00293a029 (англ.)
  28. ↑ The 20th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods  (англ.)
  29. ↑ Klockenkamper, R., Knoth, J., Prange, A. and Schwenke, H. (1992) Total-Reflection X-Ray Fluorescence Spectroscopy. Analytical Chemistry, 64, 1115A-1123A. https://doi.org/10.1021/ac00047a717 (англ.)
  30. ↑ Klockenkamper, R. (1991) Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse. In: Gunzler, H., et al., Eds., Analytiker-Taschenbuch, Springer, Berlin, 111—152. https://doi.org/10.1007/978-3-642-76028-0_5 (нем.)
  31. ↑ Wang, X. H., Wang, Y. M. and Wang, Y. F. (2002) Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis. Atomic Energy Press, Beijing. https://doi.org/10.1080/14786440908637137 (англ.)
  32. ↑ Wobrauschek, P. (2010) Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis—A Review. X-Ray Spectrometry, 36, 289—300. https://doi.org/10.1002/xrs.985 (англ.)
  33. ↑ Streli, C. (1997) Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis of Light Elements. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 52(3), 281-293. https://doi.org/10.1016/S0584-8547(96)01597-2 (англ.)
  34. ↑ Streli, C., Bauer, V. and Wobrauschek, P. (1997) Recent Developments in TXRF of Light Elements. Advances in X-Ray Analysis, 39, 771—779. https://doi.org/10.1007/978-1-4615-5377-9_86 (англ.)
  35. ↑ Burba, P., Willmer, P.G., Becker, M., et al. (1989) Determination of Trace Elements in High-Purity Aluminum by Total Reflection X-Ray Fluorescence after their Separation on Cellulose Loaded with Hexamethy Lenedithiocar Bamates. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 44, 525—532. https://doi.org/10.1016/0584-8547(89)80060-6 (англ.)
  36. ↑ Zheng, X.Q. and Zhang, X.G. (2015) Research on the Method of Distinguishing Pyroclastic Rocks in Songliao Basin Using Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis Technology. Inner Mongolia Petrochemical Industry, 41, 74-76. (англ.)
  37. ↑ Wang, L. L., Yuh, S., Li, L., et al. (2016) The Development of the TXRF Method and Its Application on the Study of Trace Elements in the Water at SSRF. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 375, 49-55. https://doi.org/10.1016/j.nimb.2016.03.046 (англ.)
  38. ↑ 1 2 Gallardo, H., Queralt, I., Tapias, J., et al. (2016) Bromine and Bromide Content in Soils: Analytical Approach from Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry. Chemosphere, 56, 294—301. https://doi.org/10.1016/j.chemosphere.2016.04.136 (англ.)
  39. ↑ 1 2 Towette, K., Shepherd, D. and Cadisch, G. (2013) Quantification of Total Element Concentrations in Soils Using Total X-Ray Fluorescence Spectroscopy (TXRF). Science of the Total Environment, 463—464, 374—388. https://doi.org/10.1016/j.scitotenv.2013.05.068 (англ.)
  40. ↑ 1 2 Liu, G. Y. (2014) The Analysis of Harmful Element Concentration of Atmospheric Particulate Matter in Wuhan Based on Total Reflection X-Ray Fluorescence Technology. University of South China, Hengyang. (англ.)
  41. ↑ Yu, J. F. (2014) Enrichment and Acute Toxicity Analysis of Copepods in Yangshan Port. Shanghai Ocean University, Shanghai. (англ.)
  42. ↑ Bilo, F., Lodolo, M., Borgese, L., et al. (2015) Evaluation of Heavy Metals Contamination from Environment to Food Matrix by TXRF: The Case of Rice and Rice Husk. Journal of Chemistry, 26, 375—379. https://doi.org/10.1155/2015/274340 (англ.)
  43. ↑ Bilo, F., Borgese, L., Dalipi, R., et al. (2017) Elemental Analysis of Tree Leaves by Total Reflection X-Ray Fluorescence: New Approaches for Air Quality Monitoring. Chemosphere, 178, 504—512. https://doi.org/10.1016/j.chemosphere.2017.03.090 (англ.)
  44. ↑ Cherkashina T. Y., Panteeva S. V. and Pashkova G. V. (2014) Applicability of Direct Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry for Multielement Analysis of Geological and Environmental Objects. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 99, 59-66. https://doi.org/10.1016/j.sab.2014.05.013 (англ.)
  45. ↑ 1 2 Adebiyi, F.M., Asubiojo, O.I. and Ajayi, T.R. (2008) Characterization of Nigerian Oil Sands by TXRF Spectrometry. Petroleum Science & Technology, 26, 29-39. https://doi.org/10.1080/10916460600705618 (англ.)
  46. ↑ Resendel, V. and Nascentesc, C.A. (2016) Simple Method for the Multi-Elemental Analysis of Organic Fertilizer by Slurry Sampling and Total Reflection X-R Ay Fluorescence. Talanta, 147, 485—492. https://doi.org/10.1016/j.talanta.2015.10.007 (англ.)
  47. ↑ 1 2 De La Calle, I., Quade, M., Krugmann, T., et al. (2014) Determination of Residual Metal Concentration in Metallurgical Slag After Acid Extraction Using Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry. X-Ray Spectrometry, 43, 345—352. https://doi.org/10.1002/xrs.2561 (англ.)
  48. ↑ Romero, V., Costas-Mora, I., La Villa, I., et al. (2016) Headspacethin-Film Microextraction onto Graphene Membranes for Specific Detection of Methyl(Cyclopentadienyl)-Tricarbonyl Manganese in Water Samples by Total Reflection X-Ray Fluorescence. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 126, 65-70. https://doi.org/10.1016/j.sab.2016.10.011 (англ.)
  49. ↑ Lankosz, M. W, Grzelak, M., Ostachowicz, B., et al. (2014) Application of the Total Reflection X-Ray Fluorescence Method to the Elemental Analysis of Brain Tumors of Different Types a Grade of Malignancy. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 101, 98-105. https://doi.org/10.1016/j.sab.2014.07.019 (англ.)
  50. ↑ Li, M. (2013) TXRF Comparative Analysis of 16 Mineral Elements in the Hair of Patients with Chronic Hepatitis B. Chinese Journal of Health Inspection, No. 8, 1915—1917 (англ.)
  51. ↑ 1 2 Yu, H. C., Chen, W. and Wu, X. R. (2013) Study on the Determination of 16 Mineral Elements in Different Grape Varieties by TXRF Method. Wine Making Technology, No. 8, 103—105. (англ.)
  52. ↑ 1 2 Li, M. (2013) Determination of 16 Mineral Elements in Walnut with Constant Pressure Digestion-TXRF. Modern Food Science and Technology, 29, 1170—1172. (англ.)
  53. ↑ Chen, W., Han, X. F., Liu, W. W., et al. (2012) TXRF Determination of 9 Life Elements in Pine Pollen. Journal of Analytical Testing, 31, 1009—1012. (англ.)
  54. ↑ Xie, M. Y., Cao, C. Y., Wen, H. L., et al. (2000) Elemental and Elemental Binding Analysis of Selenium Tea in Enshi Area. Journal of Nutrition, 22, 278—281. (англ.)
  55. ↑ Wang, S. X. (2014) TXRF Determination of 16 Mineral Elements in Ganoderma Lucid from Different Origin. Jiangxi Science, 32, 503—505. (англ.)
  56. ↑ Alov, N. and Sharanov, P. (2018) Elemental Analysis of Copper-Zinc Ores by Total Reflection X-Ray Fluorescence Using Nonaqueous Suspensions. Analytical Letters, 51, 1789—1795. https://doi.org/10.1080/00032719.2017.1390758 (англ.)
  57. ↑ Espinoza-Quinones, F.R., Palacio, S.M., Modenes, A.N., et al. (2010) Water Quality Assessment of Toledo River and Determination of Metal Concentrations by Using SR-TXRF Technique. Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry, 283, 465—470. https://doi.org/10.1007/s10967-009-0438-3 (англ.)
  58. ↑ Towett, E.K., Shepherd, K.D. and Cadisch, G. (2013) Quantification of Total Element Concentrations in Soils Using Total X-Ray Fluorescence Spectroscopy (TXRF) Science of the Total Environment, 463, 374—388. https://doi.org/10.1016/j.scitotenv.2013.05.068 (англ.)
  59. ↑ Mota, C. L., Pickler, A., Braz, D., et al. (2018) SR-TXRF Analysis of Trace Elements in Whole Blood and Heart of Rats: Effects of Irradiation with Low and High Doses. Journal of Instrumentation, 13, C04021. https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/04/C04021 (англ.)
  60. ↑ Sarapura, P., Gonzalez, M. F, Gonzalez, F., et al. (2019) Application of Total X-Ray Fluorescence to Gunshot Residue Determination. Applied Radiation and Isotopes, 153, Article ID: 108841. https://doi.org/10.1016/j.apradiso.2019.108841 (англ.)
  61. ↑ Fabjola, B., Marco, L., Laura, B., et al. (2015) Evaluation of Heavy Metals Contamination from Environment to Food Matrix by TXRF: The Case of Rice and Rice Husk. Journal of Chemistry, 2015, Article ID: 274340. https://doi.org/10.1155/2015/274340 (англ.)
  62. ↑ Mercedes, R., Sofia, R., Koen, B. and Tom, V. H. (2017) Direct Analysis of Metal Ions in Solutions with High Salt Concentrations by Total Reflection X-Ray Fluorescence. Analytical Chemistry, 89, 4595-4603. https://doi.org/10.1021/acs.analchem.7b00097 (англ.)
  63. ↑ Matsuyama, T., Izumoto, Y., Ishii, K., Sakai, Y. and Yoshii, H. (2018) Determination of Uranium in Immersion Liquid of Demolition Waste Using Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 149, 35-41. https://doi.org/10.1016/j.sab.2018.07.010 (англ.)
  64. ↑ Takahara, H., Ohbuchi, A. and Murai, K. (2018) Method Development for the Analysis of Poorly Soluble Solids by Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 149, 276-28. https://doi.org/10.1016/j.sab.2018.07.008 (англ.)
  65. ↑ Winkler, A., Rauwolf, M., Sterba, J.H., et al. (2020) Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis of the Elemental Composition of Herbal infusions and Teas. Journal of the Science of Food and Agriculture, 100, 4226-4236. https://doi.org/10.1002/jsfa.10463 (англ.)
  66. ↑ Andreas, G., Riccarda, M., Alessa, W., et al. (2020) Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry for Trace Determination of Iron and Some Additional Elements in Biological Samples. Analytical and Bioanalytical Chemistry
  67. ↑ Von Bohlen, A. and Fernandez-Ruiz, R. (2020) Experimental Evidence of Matrix Effects in Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis: Coke Case. Talanta, 209, Article ID: 120562. https://doi.org/10.1016/j.talanta.2019.120562 (англ.)
Источник — https://ru.wikipedia.org/w/index.php?title=Рентгенофлуоресцентный_анализ_с_полным_отражением&oldid=145712583